關(guān)于 高低溫老化測試 結(jié)果1

芯片高低溫老化測試箱，也稱為高低溫老化測試箱，高低溫試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)設(shè)備，可程式高低溫測試箱。

適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)

主要適用于航天、軍工、艦船、電工、電子、醫(yī)療器械等整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)。供用戶對整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候突變試驗(yàn)，以便對試品或試品試驗(yàn)行為作出評價(jià)。

QJ211B雙面膠高低溫測試設(shè)備適用于整個(gè)材料中進(jìn)行30KN以內(nèi)帶有高、低溫度的拉伸、剝離、撕裂、壓縮、彎曲、剪切、刺破、低周疲勞等項(xiàng)目的力學(xué)性能試驗(yàn)。

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1.1 空間尺寸：D5150m×W4150m×H2575m (外型尺寸) D5000mm×W4000mm×H2500mm (內(nèi)空尺寸) 1.2 溫度范圍：常溫到85℃ 1.3 溫度波動(dòng)：≤±1℃；

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